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基于阈值法的数字集成电路测试仪的研制

来源:电脑知识与技术:学术版 | 被引量:0次 | 发表于 2021年19期

【摘 要】:研制了一种基于阈值法的数字集成电路测试仪,用于检测74LS10、74LS138等74LS系列芯片的性能。该测试仪采用两片STM8型微控制器作为核心单元,通过测试向量集来判断芯片的性能,测试结果输出到LCD显示屏中。实际测试结果表明:该测试仪操作灵活,测试速度快,能准确检测芯片的状态,满足芯片诊断的需求。
【关键词】:阈值法 STM8 74LS系列芯片 
【作 者】:于宝堃 石晟屹 马望男 李寅博 刘曼迪 吴丹 
【单 位】:天津科技大学电子信息与自动化学院
【出 处】:电脑知识与技术:学术版
【页 码】:141-142
【页 数】:3
【基 金】:天津科技大学大学生实验室创新基金项目(1902A401)。